冷熱沖擊試驗箱/溫度沖擊試驗箱/高低溫沖擊試驗箱/冷熱沖擊試驗機/溫度沖擊試驗槽TS系列冷熱沖擊試驗箱/溫度沖擊試驗箱/高低溫沖擊試驗箱*設(shè)備特點規(guī)格系列齊全–提籃式
電子冷熱沖擊試驗箱,化工溫度沖擊試驗箱,五金高低溫沖擊試驗箱,冷熱沖擊試驗機
冷熱沖擊試驗箱/溫度沖擊試驗箱/高低溫沖擊試驗箱/冷熱沖擊試驗機/溫度沖擊試驗槽TS系列冷熱沖擊試驗箱/溫度沖擊試驗箱/高低溫沖擊試驗箱
*設(shè)備特點規(guī)格系列齊全–提籃式
、三廂式
、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇
，充分滿足不同用戶的各種要求
；設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗功能
，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；高強度
、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計-確保了設(shè)備的高可靠性
；工作室材料為SUS304不銹鋼-抗腐蝕、冷熱疲勞功能強
，使用壽命長
；高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料-確保將熱量散失減到最小
；表面噴塑處理-保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命
；高強度耐溫硅橡膠密封條–確保了設(shè)備大門的高密封性；多種可選功能（測試孔
、記錄儀
、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；大面積電熱防霜觀察窗
、內(nèi)藏式照明–可以提供良好的觀察效果
；環(huán)保型制冷劑–確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求；*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能*溫度控制可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制
；全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯
；每臺電機均配置過流（過熱）保護(hù)/加熱器設(shè)置短路保護(hù)，確保了設(shè)備運行期間的風(fēng)量及加熱的高可靠性
；USB接口
、以太網(wǎng)通訊功能，使得設(shè)備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要
；采用國際流行的制冷控制模式
，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%
；制冷及電控關(guān)鍵配件均采用國際知名品牌產(chǎn)品
，使設(shè)備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；*設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)GB/T-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法總則GJB150.3A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗GJB150.4A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第4部分：低溫試驗GJB150.5A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第5部分：溫度沖擊試驗GJB360B-2009電子及電氣元件試驗方法方法107溫度沖擊試驗型號TSL-80-ATSU-80-WTSS-80-WTSL-150-ATSU-150-WTSS-150-WTSL-225-WTSU-225-WTSS-225-WTSL-408-WTSU-408-WTSS-408-W標(biāo)稱內(nèi)容積（升）試驗方式氣動風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式性能高溫室預(yù)熱溫度范圍＋60～＋200℃升溫速率※1＋60→＋200℃≤20分鐘低溫室預(yù)冷溫度范圍－78－0℃降溫速率※1＋20→－75℃≤80分鐘試驗室溫度偏差±2℃溫度范圍TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃溫度恢復(fù)時間※25分鐘以內(nèi)試樣擱架承載能力30kg試樣重量7.5kg7.5kg10kg10kg內(nèi)部尺寸（mm）WHD外形尺寸（mm）※4WHD※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉(zhuǎn)時的性能
?div id="jfovm50" class="index-wrap">！?恢復(fù)條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路
。（均布）
型號TSL-80-ATSU-80-WTSS-80-WTSL-150-ATSU-150-WTSS-150-WTSL-225-WTSU-225-WTSS-225-WTSL-408-WTSU-408-WTSS-408-W標(biāo)稱內(nèi)容積（升）試驗方式氣動風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式性能高溫室預(yù)熱溫度范圍＋60～＋200℃升溫速率※1＋60→＋200℃≤20分鐘低溫室預(yù)冷溫度范圍－78－0℃降溫速率※1＋20→－75℃≤80分鐘試驗室溫度偏差±2℃溫度范圍TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃溫度恢復(fù)時間※25分鐘以內(nèi)試樣擱架承載能力30kg試樣重量7.5kg7.5kg10kg10kg內(nèi)部尺寸（mm）WHD外形尺寸（mm）※4WHD※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉(zhuǎn)時的性能
。※2恢復(fù)條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃
，試樣是塑料封裝集成電路
。（均布）
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